خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Photoelectron Spectroscopy: Bulk and Surface Electronic Structures

توضیحاتی در مورد کتاب



طیف‌سنجی فوتوالکترونی اکنون بیش از پیش برای بررسی ساختارهای الکترونیکی مواد جامد مختلف در سطح عمده، روی سطوح و همچنین در رابط‌های مدفون مورد نیاز است. وضوح انرژی در دهه گذشته بسیار بهبود یافته و به 1 مگا ولت در منطقه کم انرژی فوتون رسیده است. اکنون این تکنیک با استفاده از لیزرها، لامپ‌های تشدید سیکلوترون الکترونی، علاوه بر تابش سنکروترون و لوله‌های اشعه ایکس، از چند eV تا 10 کو در دسترس است. طیف‌سنجی فوتوالکترون با وضوح بالا (ARPES) در حال حاضر به طور گسترده برای نقشه‌برداری نواری مواد استفاده می‌شود. توجه گسترده ای را هم از علوم پایه و هم از مهندسی مواد به خود جلب می کند. مطالعات دینامیک حالات برانگیخته در زمان طیف‌سنجی پرواز با استفاده کامل از ساختارهای پالسی تابش سنکروترون و همچنین لیزرهایی از جمله لیزرهای الکترون آزاد (FEL) امکان‌پذیر است. مطالعات حل اسپین نیز با استفاده از آشکارسازهای اسپین با کارایی بالاتر و آشکارسازهای اسپین دو بعدی پیشرفت چشمگیری داشته است. اندازه‌گیری‌های وابسته به قطبش در کل طیف انرژی فوتون طیف، اطلاعات مفیدی در مورد تقارن اوربیتال‌ها فراهم می‌کند. این کتاب به مفاهیم و رویکردهای اساسی برای کاربرد این تکنیک در مطالعات مواد می پردازد. تکنیک های تکمیلی مانند انتشار عکس معکوس، پراش فوتوالکترون، طیف سنجی فوتون شامل مادون قرمز و اشعه ایکس و طیف سنجی تونل روبشی ارائه شده است. این کتاب نه تنها دامنه وسیعی از طیف‌سنجی فوتوالکترونی جامدات را ارائه می‌کند، بلکه درک ما را از ساختارهای الکترونیکی فراتر از طیف‌سنجی فوتوالکترونی گسترش می‌دهد.