خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Homogenization Techniques for Composite Media
خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Homogenization Techniques for Composite Media قیمت اصلی 149,000 تومان بود.قیمت فعلی 74,000 تومان است.
بازگشت به محصولات
خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Optical Waveguide Theory: Mathematical Models, Spectral Theory and Numerical Analysis
خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Optical Waveguide Theory: Mathematical Models, Spectral Theory and Numerical Analysis قیمت اصلی 131,000 تومان بود.قیمت فعلی 56,000 تومان است.
📥 ترافیک اینترنت مصرفی جهت دانلود فایل‌ها در الی فایل، به‌صورت نیم‌بها می باشد.
فقط اینقدر👇 دیگه زمان داری با تخفیف بخریش
00روز
13ساعت
30دقیقه
56ثانیه

خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope

قیمت اصلی 163,000 تومان بود.قیمت فعلی 88,000 تومان است.

تعداد فروش: 55





عنوان فارسی

طیف سنجی انرژی الکترونی ثانویه در میکروسکوپ الکترونی روبشی

عنوان اصلی Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope
ناشر World Scientific Publishing
نویسنده Anjam Khursheed
ISBN 9811227020, 9789811227028
سال نشر 2020
زبان English
تعداد صفحات 344
دسته طیف سنجی
فرمت کتاب pdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل 17 مگابایت
1 آیتم فروخته شده در 55 دقیقه
4 نفر در حال مشاهده این محصول هستند!
توضیحات

آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.

توضیحاتی در مورد کتاب

این کتاب به موضوع طیف سنجی انرژی ثانویه در میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) می پردازد. SEM یک ابزار تحقیقاتی پرکاربرد برای تحقیقات علمی و مهندسی است و الکترون‌های پراکنده کم انرژی آن که به عنوان الکترون‌های ثانویه شناخته می‌شوند، عمدتاً برای تصویربرداری توپوگرافی در مقیاس نانو استفاده می‌شوند. این کتاب مزایای انجام طیف‌سنجی انرژی الکترونی دقیق الکترون‌های ثانویه آن، علاوه بر استفاده از آنها برای تصویربرداری را نشان می‌دهد. این کتاب نشان خواهد داد که چگونه طیف‌سنجی انرژی الکترون ثانویه می‌تواند SEM را به یک ابزار تحلیلی قدرتمند تبدیل کند که می‌تواند اطلاعات ارزشمند علم مواد را در مقیاس نانو ترسیم کند و آن را بر روی تصویربرداری حالت توپوگرافی معمولی ابزار قرار دهد. این کتاب نشان می‌دهد که چگونه می‌توان از SEM برای تعیین کمیت/شناسایی مواد، به دست آوردن چگالی توده‌ای از اطلاعات حالت‌ها، گرفتن توزیع‌های چگالی ناخالص در نمونه‌های نیمه‌رسانا، و نقشه‌برداری توزیع بار سطحی استفاده کرد.

نظرات (0)

نقد و بررسی‌ها

هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *