خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope
قیمت اصلی 81,500 تومان بود.44,000 تومانقیمت فعلی 44,000 تومان است.
تعداد فروش: 55
| عنوان فارسی | طیف سنجی انرژی الکترونی ثانویه در میکروسکوپ الکترونی روبشی |
|---|---|
| عنوان اصلی | Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope |
| ناشر | World Scientific Publishing |
| نویسنده | Anjam Khursheed |
| ISBN | 9811227020, 9789811227028 |
| سال نشر | 2020 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 344 |
| دسته | طیف سنجی |
| فرمت کتاب | pdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 17 مگابایت |
آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.
توضیحاتی در مورد کتاب
این کتاب به موضوع طیف سنجی انرژی ثانویه در میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) می پردازد. SEM یک ابزار تحقیقاتی پرکاربرد برای تحقیقات علمی و مهندسی است و الکترونهای پراکنده کم انرژی آن که به عنوان الکترونهای ثانویه شناخته میشوند، عمدتاً برای تصویربرداری توپوگرافی در مقیاس نانو استفاده میشوند. این کتاب مزایای انجام طیفسنجی انرژی الکترونی دقیق الکترونهای ثانویه آن، علاوه بر استفاده از آنها برای تصویربرداری را نشان میدهد. این کتاب نشان خواهد داد که چگونه طیفسنجی انرژی الکترون ثانویه میتواند SEM را به یک ابزار تحلیلی قدرتمند تبدیل کند که میتواند اطلاعات ارزشمند علم مواد را در مقیاس نانو ترسیم کند و آن را بر روی تصویربرداری حالت توپوگرافی معمولی ابزار قرار دهد. این کتاب نشان میدهد که چگونه میتوان از SEM برای تعیین کمیت/شناسایی مواد، به دست آوردن چگالی تودهای از اطلاعات حالتها، گرفتن توزیعهای چگالی ناخالص در نمونههای نیمهرسانا، و نقشهبرداری توزیع بار سطحی استفاده کرد.
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.