خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
151,000 تومان قیمت اصلی 151,000 تومان بود.76,000 تومانقیمت فعلی 76,000 تومان است.
تعداد فروش: 55
| عنوان فارسی |
میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروآنالیز اشعه ایکس |
|---|---|
| عنوان اصلی | Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis |
| ویرایش | 3rd |
| ناشر | Springer |
| نویسنده | Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda Sawyer, J.R. Michael |
| ISBN | 0306472929, 9780306472923 |
| سال نشر | 2003 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 361 |
| دسته | فیزیک |
| فرمت کتاب | pdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 166 مگابایت |
آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.
توضیحاتی در مورد کتاب
این متن به دانشجویان و همچنین پزشکان مقدمه ای جامع در زمینه میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و میکروآنالیز اشعه ایکس ارائه می دهد. نویسندگان بر جنبه های عملی تکنیک های شرح داده شده تأکید دارند. موضوعات مورد بحث شامل عملکردهای کنترل شده توسط کاربر میکروسکوپ های الکترونی روبشی و طیف سنج های اشعه ایکس و استفاده از اشعه ایکس برای تجزیه و تحلیل کمی و کیفی است. فصلهای جداگانه روشهای آمادهسازی نمونه SEM برای مواد سخت، پلیمرها و نمونههای بیولوژیکی را پوشش میدهند. علاوه بر این، تکنیکهای حذف شارژ در نمونههای نارسانا به تفصیل بیان شده است. یک پایگاه داده از پارامترهای مفید برای محاسبات میکرو آنالیز SEM و اشعه ایکس و بهبود فصلهای متن در یک CD همراه موجود است.

نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.