خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Nanoscale Redox Reaction at Metal/Oxide Interface: A Case Study on Schottky Contact and ReRAM

توضیحاتی در مورد کتاب

مواد اکسیدی کاندیدهای خوبی برای جایگزینی دستگاه‌های Si هستند که به طور فزاینده‌ای به محدودیت‌های عملکردی خود می‌رسند، زیرا اولی طیف وسیعی از خواص منحصر به فرد را به دلیل ترکیب، طراحی و/یا تکنیک‌های دوپینگ ارائه می‌دهد.

نویسنده ابزاری برای انتخاب مواد اکسیدی با توجه به عملکرد آنها معرفی می‌کند و فیزیک رابط فلز/اکسید را توضیح می‌دهد. همانطور که او نشان می دهد، توسعه مواد کلید تطبیق مواد اکسیدی با کاربردهای عملی خاص است. در این کتاب، بررسی و کنترل عمدی ساختار رابط فلز/اکسید و خواص الکتریکی با استفاده از داده های به دست آمده با روش های غیر مخرب مانند فوتوالکترون اشعه ایکس می باشد. طیف سنجی (XPS) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (XRR) مورد بحث قرار می گیرند. علاوه بر این، نشان می دهد که چگونه می توان از مواد اکسید برای پشتیبانی از توسعه دستگاه های کاربردی آینده با خواص k بالا، فروالکتریک، مغناطیسی و نوری استفاده کرد. در پایان، سنسورهای نوری را به عنوان یک کاربرد از تماس شاتکی فلزی و ساختار حافظه با دسترسی تصادفی مقاومتی فلز/اکسید توضیح می‌دهد.