خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Advanced Calculations for Defects in Materials: Electronic Structure Methods
127,000 تومان قیمت اصلی 127,000 تومان بود.52,000 تومانقیمت فعلی 52,000 تومان است.
تعداد فروش: 64
| عنوان فارسی |
محاسبات پیشرفته برای نقص در مواد: روش های ساختار الکترونیکی |
|---|---|
| عنوان اصلی | Advanced Calculations for Defects in Materials: Electronic Structure Methods |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Wiley-VCH |
| نویسنده | Audrius Alkauskas, Peter Deák, Jörg Neugebauer, Alfredo Pasquarello, Chris G. Van de Walle, Editors |
| ISBN | 3527410244, 9783527410248 |
| سال نشر | 2011 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 394 |
| دسته | فیزیک حالت جامد |
| فرمت کتاب | pdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 5 مگابایت |
آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.
توضیحاتی در مورد کتاب
این کتاب راههای بهبود ممکن را با استفاده از روشهای پیچیدهتر ساختار الکترونیکی و همچنین اصلاحات و جایگزینهای مدل ابرسل بررسی میکند. به طور خاص، شایستگی عملکردهای ترکیبی و غربالشده، و همچنین روشهای +U در مقایسه با بسیاری از نظریههای بدن مختلکننده و کوانتومی مونت کارلو ارزیابی میشوند. گنجاندن اثرات اکسیتونیک نیز از طریق حل معادله بته-سالپیتر یا با استفاده از DFT وابسته به زمان، بر اساس GW یا محاسبات عملکردی ترکیبی مورد بحث قرار میگیرد. توجه ویژه ای به غلبه بر عوارض جانبی مرتبط با مدل سازی اندازه محدود می شود. ویراستاران از مقامات شناخته شده در این زمینه هستند و از پیشرفت های گذشته و همچنین پیشرفت های فعلی بسیار آگاه هستند. به نوبه خود، آنها دانشمندان محترم را به عنوان نویسندگان فصل انتخاب کرده اند تا دیدگاهی تخصصی از آخرین پیشرفت ها ارائه دهند. نتیجه یک نمای کلی روشن از ارتباطات و مرزهای بین این روش ها و همچنین معیارهای گسترده ای است که انتخاب بین آنها را برای یک روش معین تعیین می کند. مسئله. خوانندگان طرحهای تصحیح مختلفی را برای مدل ابرسلول، توصیفی از گزینههای جایگزین با استفاده از تکنیکهای جاسازی، و همچنین بهبودهای الگوریتمی که امکان پردازش تعداد بیشتری از اتمها را در سطح بالایی از پیچیدگی میدهد، پیدا خواهند کرد.

نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.