اگه کتاب خاصی میخواید کلیک کنید >
خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Modern Real Analysis
قیمت اصلی 103,000 تومان بود.68,000 تومانقیمت فعلی 68,000 تومان است.
خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Improved Inclusion-Exclusion Identities and Bonferroni Inequalities with Applications to Reliability Analysis of Coherent Systems
قیمت اصلی 121,000 تومان بود.86,000 تومانقیمت فعلی 86,000 تومان است.
📥 ترافیک اینترنت مصرفی جهت دانلود فایلها در الی فایل، بهصورت نیمبها می باشد.
فقط اینقدر👇 دیگه زمان داری با تخفیف بخریش
00روز
22ساعت
15دقیقه
09ثانیه
-35%
خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Thin film analysis by X-ray scattering
قیمت اصلی 101,000 تومان بود.66,000 تومانقیمت فعلی 66,000 تومان است.
تعداد فروش: 67
| عنوان فارسی |
تجزیه و تحلیل لایه نازک با پراکندگی اشعه ایکس |
|---|---|
| عنوان اصلی | Thin film analysis by X-ray scattering |
| ناشر | Wiley-VCH |
| نویسنده | Mario Birkholz |
| ISBN | 9783527310524, 3527310525 |
| سال نشر | 2006 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 370 |
| دسته | تحلیل و بررسی |
| فرمت کتاب | pdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 5 مگابایت |
1
آیتم فروخته شده در 55 دقیقه
3
نفر در حال مشاهده این محصول هستند!
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.