خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Analog-to-Digital Conversion
خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Analog-to-Digital Conversion قیمت اصلی 133,000 تومان بود.قیمت فعلی 58,000 تومان است.
بازگشت به محصولات
خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Designing A SEPIC Converter
خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Designing A SEPIC Converter قیمت اصلی 157,000 تومان بود.قیمت فعلی 82,000 تومان است.
📥 ترافیک اینترنت مصرفی جهت دانلود فایل‌ها در الی فایل، به‌صورت نیم‌بها می باشد.
فقط اینقدر👇 دیگه زمان داری با تخفیف بخریش
00روز
15ساعت
19دقیقه
49ثانیه

خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits

قیمت اصلی 173,000 تومان بود.قیمت فعلی 98,000 تومان است.

تعداد فروش: 45




عنوان فارسی

تست و طراحی برای آزمایش پذیری در مدارهای مجتمع سیگنال مختلط

عنوان اصلی Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits
ویرایش 1
ناشر Springer US
نویسنده José L. Huertas (auth.), José L. Huertas (eds.)
ISBN 9781441954220, 9780387235219
سال نشر 2004
زبان English
تعداد صفحات 309
دسته الکترونیک
فرمت کتاب pdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل 10 مگابایت
2 آیتم فروخته شده در 55 دقیقه
3 نفر در حال مشاهده این محصول هستند!
توضیحات

آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.

توضیحاتی در مورد کتاب



تست و طراحی برای آزمایش پذیری در مدارهای مجتمع سیگنال مختلط به آزمایش و طراحی برای آزمایش مدارهای مجتمع آنالوگ و سیگنال مختلط می پردازد. به خصوص در سیستم روی تراشه (SoC)، که در آن فناوری‌های مختلف (آنالوگ، دیجیتال، حسگرها، RF) در هم تنیده شده‌اند. تست در حال تبدیل شدن به یک گلوگاه واقعی پروژه های آی سی حال و آینده است. پیوند طراحی و آزمایش در این سیستم‌های ناهمگن تأثیر فوق‌العاده‌ای از نظر زمان تست، هزینه و مهارت خواهد داشت. اگرچه این موضوع به عنوان یک موضوع کلیدی برای توسعه IC های پیچیده شناخته می شود، اما هنوز فقدان منابع ساختاری برای ارائه موضوعات اصلی در این زمینه وجود دارد. هدف این کتاب ارائه مفاهیم اساسی و ایده های جدید به شیوه ای قابل درک برای متخصصان و دانشجویان است. از آنجایی که این یک زمینه تحقیقاتی فعال است، یک مرور جامع پیشرفته بسیار ارزشمند است که مشکلات اصلی و همچنین راه‌های حل امیدوارکننده را معرفی می‌کند و بر اساس، نقاط قوت و ضعف آنها تأکید می‌کند.

در اصل چندین موضوع به تفصیل ارائه شده است. اول از همه، تکنیک هایی برای استفاده کارآمد از تست مبتنی بر DSP و ابزارهای تست CAD. استانداردسازی موضوع دیگری است که در این کتاب با تمرکز بر IEEE 1149.4 در نظر گرفته شده است. همچنین طراحی اتصال و آزمایش با استفاده از تکنیک‌های توصیف سطح بالا (رفتاری) به طور عمیق مورد توجه قرار گرفته است، نمونه‌های خاصی آورده شده است. موضوع دیگر مربوط به تکنیک‌های تست برای کلاس‌های کاملاً تعریف‌شده بلوک‌های یکپارچه، مانند مبدل‌های داده و حلقه‌های قفل‌شده فاز است. علاوه بر این تکنیک‌های آزمایش مبتنی بر مشخصات، رویکردهای خطا محور توصیف می‌شوند زیرا راه‌حل‌های بالقوه‌ای را ارائه می‌دهند که بیشتر شبیه به روش‌های تست دیجیتال هستند. در نهایت، در Design-for-Testability و Built-In-Self-Test، دو مفهوم دیگر که از طراحی دیجیتال گرفته شده است، در یک زمینه آنالوگ معرفی شده و برای مورد فیلترهای یکپارچه به تصویر کشیده شده است.

به طور خلاصه، هدف این کتاب ارائه نگاهی اجمالی به نتایج تحقیقات اخیر در زمینه آزمایش مدارهای مجتمع سیگنال مختلط، به ویژه در موضوعات ذکر شده در بالا است. بسیاری از کارهای گزارش شده در اینجا در پروژه های مشترک تحقیقاتی اروپایی انجام شده است، که در آن نویسندگان فصل های مختلف به طور فعال با یکدیگر همکاری کرده اند. این یک تصویر لحظه ای نماینده از وضعیت فعلی هنر در این زمینه نوظهور است.

نظرات (0)

نقد و بررسی‌ها

هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *