خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
قیمت اصلی 141,000 تومان بود.66,000 تومانقیمت فعلی 66,000 تومان است.
تعداد فروش: 62
| عنوان فارسی |
میکروسکوپ الکترونی بازتابی و طیف سنجی برای تجزیه و تحلیل سطح |
|---|---|
| عنوان اصلی | Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis |
| ناشر | |
| نویسنده | Zhong Lin Wang |
| ISBN | 0521017955, 9780521017954 |
| سال نشر | 2005 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 456 |
| دسته | فیزیک |
| فرمت کتاب | pdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 67 مگابایت |
آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.
توضیحاتی در مورد کتاب
این کتاب مروری جامع بر نظریهها، تکنیکها و کاربردهای میکروسکوپ الکترونی بازتابی (REM)، پراش الکترونی با انرژی بالا (RHEED) و طیفسنجی از دست دادن انرژی الکترون بازتابی (REELS) است. این کتاب به سه بخش تقسیم شده است: پراش، تصویربرداری و طیفسنجی. متن برای ترکیب تکنیکهای پایه با کاربردهای خاص، تئوریها با آزمایشها و فیزیک پایه با علم مواد نوشته شده است تا تصویر کاملی از RHEED و REM پدیدار شود. این کتاب که یک مطالعه کاملا مستقل است، حاوی مطالب مرجع بسیار ارزشمندی است، از جمله کدهای منبع FORTRAN برای محاسبه دادههای ساختارهای کریستالی و طیفهای از دست دادن انرژی الکترون در هندسههای پراکندگی مختلف. این ویژگی و بسیاری ویژگی های دیگر باعث می شود که این کتاب به مضمونی مهم و به موقع در ادبیات علم مواد برای محققان و دانشجویان فارغ التحصیل رشته فیزیک و علم مواد تبدیل شود.
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.