خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Photoinduced defects in semiconductors
129,000 تومان قیمت اصلی 129,000 تومان بود.54,000 تومانقیمت فعلی 54,000 تومان است.
تعداد فروش: 78
| عنوان فارسی |
نقص ناشی از عکس در نیمه هادی ها |
|---|---|
| عنوان اصلی | Photoinduced defects in semiconductors |
| ناشر | CUP |
| نویسنده | David Redfield, Richard H. Bube |
| ISBN | 9780521461962, 0521461960 |
| سال نشر | 1996 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 228 |
| دسته | الکترونیک: رادیو |
| فرمت کتاب | PDF – قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 2 مگابایت |
آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.
توضیحاتی در مورد کتاب
این کتاب یک نمای کلی از خواص عیوب سطح عمیق و موضعی در نیمه هادی ها ارائه می دهد. چنین عیوب نسبتاً طولانی مدت (یا فراپایدار) فعل و انفعالات پیچیده ای با مواد اطراف نشان می دهند و می توانند به طور قابل توجهی بر عملکرد و پایداری دستگاه های نیمه هادی خاص تأثیر بگذارند. پس از بحث مقدماتی در مورد نقایص فراپایدار، نویسندگان خواص مراکز DX و EL2 را در ترکیبات IIISHV ارائه میکنند. آنها همچنین قبل از ارائه شرح مفصلی از خواص و سینتیک نقص های ناشی از عکس در نیمه هادی های آمورف، با مواد کریستالی اضافی سروکار دارند. این کتاب با بررسی اثرات نقص های ناشی از عکس در طیف وسیعی از کاربردهای عملی بسته می شود. این کتاب برای دانشجویان فارغ التحصیل و محققان علاقه مند به فیزیک و علم مواد نیمه هادی ها بسیار مفید خواهد بود.

نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.