اگه کتاب خاصی میخواید کلیک کنید >
خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Practical Attribute and Variable Measurement Systems Analysis (MSA): A Guide for Conducting Gage R&R Studies and Test Method Validations
قیمت اصلی 169,000 تومان بود.94,000 تومانقیمت فعلی 94,000 تومان است.
خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Метрологія, стандартизація, сертифікація і управління якістю: Навчальний посібник
قیمت اصلی 173,000 تومان بود.98,000 تومانقیمت فعلی 98,000 تومان است.
📥 ترافیک اینترنت مصرفی جهت دانلود فایلها در الی فایل، بهصورت نیمبها می باشد.
فقط اینقدر👇 دیگه زمان داری با تخفیف بخریش
00روز
09ساعت
50دقیقه
56ثانیه
-47%
خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Nanopositionier- und Nanomessmaschinen : Geräte für hochpräzise makro- bis nanoskalige Oberflächen- und Koordinatenmessungen
قیمت اصلی 159,000 تومان بود.84,000 تومانقیمت فعلی 84,000 تومان است.
تعداد فروش: 69
| عنوان فارسی |
ماشینهای موقعیتیابی و اندازهگیری نانو: دستگاههایی برای اندازهگیریهای سطحی و مختصات در مقیاس ماکرو تا نانومقیاس با دقت بالا |
|---|---|
| عنوان اصلی | Nanopositionier- und Nanomessmaschinen : Geräte für hochpräzise makro- bis nanoskalige Oberflächen- und Koordinatenmessungen |
| ویرایش | 1., Aufl. |
| ناشر | Pro Business |
| نویسنده | Tino Hausotte |
| ISBN | 9783868059489 |
| سال نشر | 2011 |
| زبان | German |
| تعداد صفحات | 84 |
| دسته | اندازه گیری |
| فرمت کتاب | pdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 72 مگابایت |
1
آیتم فروخته شده در 55 دقیقه
5
نفر در حال مشاهده این محصول هستند!
توضیحات
آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.
توضیحاتی در مورد کتاب
پایان نامه توانبخشی – دستگاه تعیین موقعیت و نانو اندازه گیری نانو NMM-1 یک سیستم اندازه گیری نسل جدید برای اندازه گیری های سطحی و مختصات در مقیاس ماکرو تا نانو است و در سال های اخیر اهمیت فزاینده ای در فناوری اندازه گیری میکرو و نانو پیدا کرده است. این دستگاه برای اندازهگیریهای با دقت بالا در محدوده تقریباً 25 میلیمتر × 25 میلیمتر در 5 میلیمتر ساخته شده است. این سیستم دارای وضوح اندازهگیری تضمین شده 0.1 نانومتر با کوچکترین مراحل کوانتیزاسیون 0.02 نانومتر، آرایش بدون خطا، دقیق است. سیستم مختصات مرجع – تعریف شده توسط گوشه آینه اندازه گیری – و اندازه گیری طول تداخل سنجی. این دستگاه امکان ادغام طیف گسترده ای از سیستم های کاوشگر را فراهم می کند و بنابراین طیف وسیعی از اندازه گیری های سطح و مختصات را با بالاترین وضوح در کل حجم اندازه گیری ممکن می کند. این پایان نامه توانبخشی اصول، اجزا، ساختار، کاربرد و توسعه بیشتر در چند سال گذشته را با اشاره به وضعیت هنر توصیف می کند.
نظرات (0)
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.