خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Gettering Defects in Semiconductors (Springer Series in Advanced Microelectronics)
قیمت اصلی 141,000 تومان بود.66,000 تومانقیمت فعلی 66,000 تومان است.
تعداد فروش: 79
| عنوان فارسی |
دریافت عیوب در نیمه هادی ها (سری اسپرینگر در میکروالکترونیک پیشرفته) |
|---|---|
| عنوان اصلی | Gettering Defects in Semiconductors (Springer Series in Advanced Microelectronics) |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer |
| نویسنده | V.A. Perevostchikov, V.D. Skoupov |
| ISBN | 9783540262442, 354026244X |
| سال نشر | 2005 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 400 |
| دسته | الکترونیک |
| فرمت کتاب | pdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 4 مگابایت |
آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.
توضیحاتی در مورد کتاب
گرفتن نقص در نیمه هادی ها سه هدف اساسی را برآورده می کند: سیستماتیک کردن تجربه و تحقیق در بهرهبرداری از تکنیکهای مختلف دریافت در میکروالکترونیک و نانوالکترونیک؛ ? شناسایی جهات جدید در تحقیق، به ویژه برای ارتقای دیدگاه متخصصان و محققان و متخصصان جوان؛ ? برای پر کردن شکاف در ادبیات معاصر در مورد نظریه نیمه هادی-ماده اساسی. نویسندگان نه تنها به تکنیکهای تثبیتشده دریافت میپردازند، بلکه روندهای معاصر در فناوریهای دریافت را از دیدگاه بینالمللی نیز توصیف میکنند. انواع و خواص عیوب ساختاری در نیمه هادی ها، ایجاد و مکانیسم های تبدیل آنها در طول ساخت شرح داده شده است. تأکید اولیه بر طبقهبندی و توصیف تکنیکهای دریافت خاص است که ویژگی آنها هم از موقعیت آنها در یک فرآیند کلی تکنولوژیکی و هم از رژیمهای کاربردشان ناشی میشود. این کتاب به مهندسان و دانشمندان مواد علاقه مند به نظریه مواد نیمه هادی و همچنین دانشجویان کارشناسی و کارشناسی ارشد در میکروالکترونیک حالت جامد و نانوالکترونیک می پردازد. فهرست جامعی از مراجع جهت مطالعه بیشتر را در اختیار خوانندگان قرار می دهد.
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.