خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices
167,000 تومان قیمت اصلی 167,000 تومان بود.92,000 تومانقیمت فعلی 92,000 تومان است.
تعداد فروش: 52
| عنوان فارسی |
اسپکترومتر جرم یون ثانویه: مقدمه ای بر اصول و عملکردها |
|---|---|
| عنوان اصلی | Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Wiley |
| نویسنده | Paul van der Heide |
| ISBN | 1118480481, 9781118480489 |
| سال نشر | 2014 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 386 |
| دسته | شیمی تجزیه |
| فرمت کتاب | pdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 4 مگابایت |
آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.
توضیحاتی در مورد کتاب
به عنوان یک مرجع عملی برای کسانی که در طیف سنجی جرمی یونی ثانویه (SIMS) درگیر هستند عمل می کند
• SIMS را همراه با زمینه های بسیار متنوع (شیمی، فیزیک، زمین شناسی و زیست شناسی) به آن معرفی می کند که با استفاده از تصاویر به روز اعمال می شود
• اصول پذیرفته شده و مدلهای مرتبط مرتبط با کندوپاش عنصری و مولکولی و انتشار یون را معرفی میکند
• تئوری و حالتهای عملکرد ابزار دقیق مورد استفاده در اشکال مختلف SIMS را پوشش میدهد (Static vs Dynamic vs Cluster ion SIMS)< br />• جزئیات نحوه جمعآوری/پردازش دادهها را میتوان انجام داد، با تاکید بر نحوه شناسایی و اجتناب از تحریفهای ناشی از تجزیه و تحلیل معمولاً رخ میدهد
• ارائه شده تا حد امکان به طور خلاصه با همه بخشها به گونهای که بتوان آنها را شناسایی کرد. مستقل از هم بخوانند

نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.