خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
139,000 تومان قیمت اصلی 139,000 تومان بود.64,000 تومانقیمت فعلی 64,000 تومان است.
تعداد فروش: 48
| عنوان فارسی |
اثرات پرتو، توپوگرافی سطحی و عمق نفوذ در تحلیل سطح |
|---|---|
| عنوان اصلی | Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer US |
| نویسنده | John H. Thomas III (auth.), Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell (eds.) |
| ISBN | 0306458969, 9780306469145 |
| سال نشر | 2002 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 451 |
| دسته | فیزیک |
| فرمت کتاب | PDF – قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 6 مگابایت |
آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.
توضیحاتی در مورد کتاب
کتابهای زیادی در دسترس هستند که اصول اولیه روشهای مختلف توصیف سطح را به تفصیل شرح میدهند. از سوی دیگر، ادبیات علمی منبعی از چگونگی انجام تک تک تحقیقات توسط آزمایشگاههای خاص فراهم میکند. بین این دو افراط، ادبیات نازک است، اما اینجاست که حجم فعلی به راحتی مینشیند. هم دانشمند تازه وارد و هم دانشمند بالغ تر، در این فصل ها انبوهی از جزئیات و همچنین توصیه ها و راهنمایی های کلی از پدیده های اصلی مربوط به مطالعه نمونه های واقعی را خواهند یافت. در تجزیه و تحلیل نمونه ها، تحلیلگران عملی مدل های نسبتاً ساده ای از نحوه عملکرد همه چیز دارند. بر این دنیای ایدهآل، درک این موضوع است که چگونه پارامترهای روش اندازهگیری، ابزار دقیق، و ویژگیهای نمونه، این دنیای ایدهآل را به چیزی کمتر دقیق، کمتر کنترلشده و کمتر درکتر تحریف میکنند. راهنماییهای ارائهشده در این فصلها به دانشمند این امکان را میدهد تا بفهمد که چگونه دقیقترین و قابل درکترین اندازهگیریهایی را که در حال حاضر ممکن است به دست آورد و در مواردی که مشکلات اجتنابناپذیری وجود دارد، راهنمایی روشنی به عنوان وسعت مشکل و رفتار احتمالی آن داشته باشد. /p>

نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.