

خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and Related Measurements in the Micro- and Nanometer Range
68,500 تومان قیمت اصلی 68,500 تومان بود.31,000 تومانقیمت فعلی 31,000 تومان است.
تعداد فروش: 55
عنوان فارسی | استانداردها و روش های کالیبراسیون در مقیاس نانو: اندازه گیری های بعدی و مرتبط در محدوده میکرو و نانومتر |
---|---|
عنوان اصلی | Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and Related Measurements in the Micro- and Nanometer Range |
ناشر | Wiley-VCH |
نویسنده | G?nter Wilkening, Ludger Koenders |
ISBN | 352740502X, 9783527405022 |
سال نشر | 2005 |
زبان | English |
تعداد صفحات | 527 |
دسته | فناوری نانو |
فرمت کتاب | pdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
حجم فایل | 11 مگابایت |
آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.
توضیحاتی در مورد کتاب
تعیین کمی خواص ریز و نانوساختارها در تحقیق و توسعه ضروری است. همچنین یک پیش نیاز در کنترل فرآیند و تضمین کیفیت در صنعت است. آگاهی از ابعاد هندسی سازه ها در بیشتر موارد پایه ای است که سایر خصوصیات فیزیکی و شیمیایی به آن مرتبط است. اندازهگیریهای کمی نیازمند ابزارهای قابل اعتماد و پایدار، روشهای اندازهگیری مناسب و همچنین مصنوعات و روشهای کالیبراسیون مناسب هستند. سمینار “NanoScale 2004” (ششمین سمینار میکروسکوپ کمی و دومین سمینار استانداردها و روش های کالیبراسیون نانومقیاس) در موسسه ملی مترولوژی (Physikalisch-Technische Bundesanstalt PTB)، براونشوایگ، آلمان، ادامه سلسله سمینارهای Quantitative Microcopy در مورد استانداردها و روش های کالیبراسیون نانومقیاس است. این مجموعه تبادل اطلاعات بین تولیدکنندگان سخت افزار و نرم افزار مربوطه و کاربران در علم و صنعت را تحریک می کند.
موضوعاتی که در این جلسات به آن پرداخته شده است
الف) کاربرد اندازهگیریهای کمی و مسائل اندازهگیری در: میکروالکترونیک، فناوری میکروسیستم، نانو/کوانتوم/الکترونیک مولکولی، شیمی، زیستشناسی، پزشکی، فناوری محیط زیست، علم مواد، پردازش سطح
ب) روش های کالیبراسیون و اصلاح: روش های کالیبراسیون، استانداردهای کالیبراسیون، روش های کالیبراسیون، اندازه گیری های قابل ردیابی، استانداردسازی، عدم قطعیت اندازه گیری ها
ج) ابزار دقیق و روشها: ابزارها و روشهای جدید/بهبود یافته، موقعیتیابی کاوشگر/نمونه قابل تکرار، سیستمهای اندازهگیری موقعیت، سیستمهای کاوشگر/ردیاب جدید/بهبود یافته، روشهای خطیسازی، پردازش تصویر
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.