خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Identification of Defects in Semiconductors
81,500 تومان قیمت اصلی 81,500 تومان بود.44,000 تومانقیمت فعلی 44,000 تومان است.
تعداد فروش: 44
| عنوان فارسی | شناسایی عیوب در نیمه هادی ها | 
|---|---|
| عنوان اصلی | Identification of Defects in Semiconductors | 
| ناشر | Elsevier, Academic Press | 
| نویسنده | Michael Stavola (Eds.) | 
| ISBN | 0127521658, 9780080864495 | 
| سال نشر | 1999 | 
| زبان | English | 
| تعداد صفحات | 449 | 
| دسته | الکترونیک: رادیو | 
| فرمت کتاب | pdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها | 
| حجم فایل | 19 مگابایت | 
آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.
توضیحاتی در مورد کتاب
توصیف کلی این مجموعه از زمان آغاز به کار آن در سال 1966، مجموعه ای از مجلدات شماره گذاری شده به نام نیمه هادی ها و نیمه فلزات از طریق انتخاب دقیق نویسندگان، ویراستاران و مشارکت کنندگان مشهور خود را متمایز کرده است. مجموعه “ویلاردسون و بیر”، همانطور که به طور گسترده شناخته شده است، موفق به انتشار جلدها و فصل های شاخص متعددی شده است. بسیاری از این مجلدات نه تنها در زمان انتشار تأثیر گذاشتند، بلکه سالها پس از انتشار اصلیشان همچنان مورد استناد قرار میگیرند. اخیراً، پروفسور Eicke R. Weber از دانشگاه کالیفرنیا در برکلی به عنوان یکی از سردبیران این مجموعه پیوست. پروفسور وبر، متخصص مشهور در زمینه مواد نیمه هادی، بیشتر به ادامه سنت مجموعه در انتشار به موقع، بسیار مرتبط و طولانی مدت کمک خواهد کرد. برخی از مجلدات اخیر، مانند هیدروژن در نیمه هادی ها، عیوب در مواد III/V، ریزساختارهای هم محور، دستگاه های ناهمسان ساختاری با سرعت بالا، اکسیژن در سیلیکون، و دیگران در واقع نوید می دهند که این سنت حفظ و حتی گسترش خواهد یافت. ماهیت رشته ای که این مجموعه پوشش می دهد، حجم های نیمه هادی ها و نیمه فلزات مورد توجه فیزیکدانان، شیمیدانان، دانشمندان مواد و مهندسان دستگاه در صنعت مدرن بوده و خواهد بود. شرح کلی جلد این جلد دارای مشارکت در تکنیک های پیشرفته توصیف با تمرکز بر شناسایی نقص است. ترکیب تکنیک های پرتو با مشخصات الکتریکی و نوری در جای دیگری مورد بحث قرار نگرفته است.
 
 
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.