خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
قیمت اصلی 64,500 تومان بود.27,000 تومانقیمت فعلی 27,000 تومان است.
تعداد فروش: 66
| عنوان فارسی | شناسایی آسیب تشعشع توسط میکروسکوپ الکترونی عبوری |
|---|---|
| عنوان اصلی | Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Taylor & Francis |
| نویسنده | M.L Jenkins, M.A Kirk |
| ISBN | 9780750307482, 075030748X |
| سال نشر | 2000 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 234 |
| دسته | مهندسی مکانیک |
| فرمت کتاب | pdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 7 مگابایت |
آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.
توضیحاتی در مورد کتاب
هدف این کتاب توصیف جزئیات روش‌های میکروسکوپ الکترونی مورد استفاده برای بررسی ریزساختارهای پیچیده و در مقیاس ریز است، مانند آن‌هایی که با تابش ذرات سریع فلزات یا کاشت یونی نیمه‌رساناها تولید می‌شوند. توجه ویژه به روش‌های مورد استفاده برای توصیف خوشه‌های نقص نقطه کوچک مانند حلقه‌های نابجایی داده می‌شود، زیرا پوشش این موضوع در کتاب‌های درسی میکروسکوپ عمومی محدود است و بسیاری از مشکلات مرتبط با تجزیه و تحلیل این عیوب را حذف می‌کند. در محل، تکنیک های با وضوح بالا و تحلیلی نیز شرح داده شده است. این تکنیک‌ها با مثال‌هایی نشان داده شده‌اند، که به ارائه یک نمای کلی از سهم TEM در درک فعلی مکانیسم‌های آسیب تشعشع کمک می‌کند. این کتاب برای محققان در زمینه تجزیه و تحلیل نقص در مواد یا وارد شدن به آن بسیار مفید خواهد بود.
نقد و بررسی‌ها
هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.