خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Scanning Force Microscopy With Applications to Electric Magnetic and Atomic Forces
قیمت اصلی 71,500 تومان بود.34,000 تومانقیمت فعلی 34,000 تومان است.
تعداد فروش: 48
| عنوان فارسی | اسکن میکروسکوپ نیرو با کاربرد در نیروهای مغناطیسی و اتمی الکتریکی |
|---|---|
| عنوان اصلی | Scanning Force Microscopy With Applications to Electric Magnetic and Atomic Forces |
| ویرایش | Rev Sub |
| ناشر | Oxford University Press, USA |
| نویسنده | Dror Sarid |
| ISBN | 019509204X, 9781423734567 |
| سال نشر | 1994 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 284 |
| دسته | برق و مغناطیس |
| فرمت کتاب | pdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 12 مگابایت |
آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.
توضیحاتی در مورد کتاب
از زمان اختراع خود در سال 1982، میکروسکوپ تونل زنی روبشی (STM) کاربران را قادر می سازد تا تصاویری را که ساختار الکترونیکی سطحی را با وضوح اتمی منعکس می کنند، بدست آورند. این فناوری به عنوان یک ابزار مشخصه با کاربرد در فیزیک سطح، شیمی، علم مواد، علوم زیستی و رسانه های ذخیره سازی داده ضروری است. همچنین پتانسیل زیادی در زمینه هایی مانند صنایع نیمه هادی و کنترل کیفیت نوری نشان داده است. Microscopy Force Scanning, Revised Edition، بررسی نسخه قبلی را از بسیاری از موضوعات به سرعت در حال توسعه در مورد نگاشت انواع نیروها در سطوح، از جمله تئوری اساسی، ابزار دقیق، و کاربردها به روز می کند. همچنین شامل تحقیقات جدید مهم در STM و کتابشناسی کاملاً اصلاح شده است. محققان دانشگاهی و صنعتی که از STM استفاده می کنند، یا مایل به دانستن بیشتر در مورد پتانسیل آن هستند، این کتاب را مقدمه ای عالی برای این زمینه به سرعت در حال توسعه خواهند یافت.
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.