خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Helium Ion Microscopy: Principles and Applications

توضیحاتی در مورد کتاب



میکروسکوپ یون هلیوم: اصول و کاربردها این تئوری را توصیف می کند و جزئیات عملی را در مورد چرایی اسکن میکروسکوپ ها با استفاده از پرتوهای یون های نور – مانند یون هلیوم توضیح می دهد. میکروسکوپ (HIM) – قرار است به ابزار تصویربرداری انتخابی برای قرن بیست و یکم تبدیل شوند. موضوعات پوشش داده شده شامل اصول، عملکرد و عملکرد منبع یون میدان گازی (GFIS) و مقایسه اپتیک میکروسکوپ‌های پرتوی یونی و الکترونی شامل شرایط عملکرد، وضوح و عملکرد سیگنال به نویز است. اصول فیزیکی تولید الکترون ثانویه ناشی از یون (iSE) توسط یون ها مورد بحث قرار می گیرد و یک پایگاه داده گسترده از بازده iSE برای بسیاری از عناصر و ترکیبات به عنوان تابعی از گونه های یون فرودی و انرژی آن گنجانده شده است. آسیب پرتو و شارژ اغلب نتایج تابش پرتو یونی است و تکنیک هایی برای به حداقل رساندن چنین مشکلاتی ارائه شده است. علاوه بر تصویربرداری، از پرتوهای یونی می توان برای رسوب کنترل شده یا حذف مواد انتخابی با دقت نانومتری استفاده کرد. تکنیک ها و شرایط مورد نیاز برای ساخت نانو مورد بحث و نشان داده شده است. در نهایت، مشکل انجام میکروآنالیز شیمیایی با پرتوهای یونی در نظر گرفته شده است. یون‌های کم انرژی نمی‌توانند تشعشعات اشعه ایکس را ایجاد کنند، بنابراین تکنیک‌های جایگزین مانند تصویربرداری پس‌اسکتر رادرفورد (RBI) یا طیف‌سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS) مورد بررسی قرار می‌گیرند.