خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

قیمت اصلی 89,000 تومان بود.قیمت فعلی 54,000 تومان است.

تعداد فروش: 80

عنوان فارسی	ناهنجاری های آنورکتال در کودکان: جنین شناسی ، تشخیص ، درمان جراحی ، پیگیری
عنوان اصلی	Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
ویرایش	2
ناشر	Springer
نویسنده	Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez
ISBN	9780387249933, 0387249931
سال نشر	2007
زبان	English
تعداد صفحات	342
دسته	سازمان و پردازش داده ها
فرمت کتاب	pdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل	6 مگابایت

1 آیتم فروخته شده در 55 دقیقه

5 نفر در حال مشاهده این محصول هستند!

توضیحات

آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.

نظرات (0)

نقد و بررسی‌ها

هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits”