خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits
قیمت اصلی 177,000 تومان بود.102,000 تومانقیمت فعلی 102,000 تومان است.
تعداد فروش: 54
| عنوان فارسی |
تست و تست سطح ویفر در حین سوختن برای مدارهای مجتمع |
|---|---|
| عنوان اصلی | Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Artech House Publishers |
| نویسنده | Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty |
| ISBN | 1596939893, 9781596939899 |
| سال نشر | 2010 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 215 |
| دسته | الکترونیک: رادیو |
| فرمت کتاب | pdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 3 مگابایت |
آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.
توضیحاتی در مورد کتاب
آزمایش در سطح ویفر به فرآیندی حیاتی از قرار دادن مدارهای مجتمع و دستگاه های نیمه هادی تحت آزمایش الکتریکی در حالی که هنوز به شکل ویفر هستند اشاره دارد. Burn-in یک تست استرس قابلیت اطمینان دما/سوگیری است که برای شناسایی و غربالگری خرابیهای بالقوه دستگاه اولیه استفاده میشود. این منبع عملی تجزیه و تحلیل جامعی از این روشها ارائه میکند و نشان میدهد که چگونه تست سطح ویفر در حین سوختن (WLTBI) به کاهش هزینه محصول در تولید نیمهرسانا کمک میکند. مهندسان یاد می گیرند که چگونه آزمایش مدارهای مجتمع را در سطح ویفر تحت محدودیت های منابع مختلف پیاده سازی کنند. علاوه بر این، این کتاب منحصر به فرد به پزشکان کمک می کند تا به موضوع فعال کردن محصولات نسل بعدی با آزمایش کننده های نسل قبلی بپردازند. پزشکان همچنین بینش های تخصصی در مورد روندهای فعلی صنعت را در راه حل های تست WLTBI پیدا می کنند.
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.