مكان گيرنده
خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Elements of Radio Communication قیمت اصلی 63,500 تومان بود.قیمت فعلی 26,000 تومان است.
بازگشت به محصولات
خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Netzwerkmanagement im Handel : Prozessinnovationen im Handel am Beispiel der RFID-Technologie
خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Netzwerkmanagement im Handel : Prozessinnovationen im Handel am Beispiel der RFID-Technologie قیمت اصلی 65,500 تومان بود.قیمت فعلی 28,000 تومان است.
فقط اینقدر👇 دیگه زمان داری با تخفیف بخریش
00روز
10ساعت
50دقیقه
42ثانیه

خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Identification of Defects in Semiconductors

قیمت اصلی 81,500 تومان بود.قیمت فعلی 44,000 تومان است.

تعداد فروش: 44





عنوان فارسی

شناسایی عیوب در نیمه هادی ها

عنوان اصلیIdentification of Defects in Semiconductors
ناشرElsevier, Academic Press
نویسندهMichael Stavola (Eds.)
ISBN 0127521658, 9780080864495
سال نشر1999
زبانEnglish
تعداد صفحات449
دستهالکترونیک: رادیو
فرمت کتابpdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل19 مگابایت
1 آیتم فروخته شده در 55 دقیقه
4 نفر در حال مشاهده این محصول هستند!
توضیحات

آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.

توضیحاتی در مورد کتاب

توصیف کلی این مجموعه از زمان آغاز به کار آن در سال 1966، مجموعه ای از مجلدات شماره گذاری شده به نام نیمه هادی ها و نیمه فلزات از طریق انتخاب دقیق نویسندگان، ویراستاران و مشارکت کنندگان مشهور خود را متمایز کرده است. مجموعه “ویلاردسون و بیر”، همانطور که به طور گسترده شناخته شده است، موفق به انتشار جلدها و فصل های شاخص متعددی شده است. بسیاری از این مجلدات نه تنها در زمان انتشار تأثیر گذاشتند، بلکه سال‌ها پس از انتشار اصلی‌شان همچنان مورد استناد قرار می‌گیرند. اخیراً، پروفسور Eicke R. Weber از دانشگاه کالیفرنیا در برکلی به عنوان یکی از سردبیران این مجموعه پیوست. پروفسور وبر، متخصص مشهور در زمینه مواد نیمه هادی، بیشتر به ادامه سنت مجموعه در انتشار به موقع، بسیار مرتبط و طولانی مدت کمک خواهد کرد. برخی از مجلدات اخیر، مانند هیدروژن در نیمه هادی ها، عیوب در مواد III/V، ریزساختارهای هم محور، دستگاه های ناهمسان ساختاری با سرعت بالا، اکسیژن در سیلیکون، و دیگران در واقع نوید می دهند که این سنت حفظ و حتی گسترش خواهد یافت. ماهیت رشته ای که این مجموعه پوشش می دهد، حجم های نیمه هادی ها و نیمه فلزات مورد توجه فیزیکدانان، شیمیدانان، دانشمندان مواد و مهندسان دستگاه در صنعت مدرن بوده و خواهد بود. شرح کلی جلد این جلد دارای مشارکت در تکنیک های پیشرفته توصیف با تمرکز بر شناسایی نقص است. ترکیب تکنیک های پرتو با مشخصات الکتریکی و نوری در جای دیگری مورد بحث قرار نگرفته است.

نقد و بررسی‌ها

هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Identification of Defects in Semiconductors”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *