خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing)

توضیحاتی در مورد کتاب

تست مدارهای مجتمع برای اطمینان از تولید تراشه های بدون عیب مهم است. با این حال، به دلیل پیچیدگی روزافزون این آی سی ها، آزمایش ها دست و پا گیر و گران می شوند. توسعه فناوری امکان تولید تراشه‌هایی را فراهم کرده است که در آن یک سیستم کامل با تعداد زیادی ترانزیستور، که با فرکانس کلاک بالا کار می‌کند، روی یک قالب قرار می‌گیرد – SOC (System-on-Chip). کوچک‌سازی اندازه دستگاه منجر به انواع خطاهای جدید می‌شود، افزایش فرکانس ساعت باعث آزمایش خطاهای زمان‌بندی می‌شود و افزایش تعداد ترانزیستورها منجر به تعداد بیشتری از محل‌های خطای احتمالی می‌شود. آزمایش باید تمام این چالش‌های جدید را به شیوه‌ای کارآمد با دیدگاه سیستم جهانی مدیریت کند. طراحی تست برای آزمایش پذیر ساختن یک سیستم اعمال می شود. در یک محیط مبتنی بر هسته مدولار که در آن بلوک‌های منطق قابل استفاده مجدد، به اصطلاح هسته‌ها، در یک سیستم ادغام می‌شوند، طراحی تست برای هر هسته شامل موارد زیر است: انتخاب روش تست، تولید داده‌های تست (محرک‌ها و پاسخ‌ها) (ATPG)، تعریف تست. ذخیره سازی و پارتیشن بندی داده ها [خارج از تراشه به عنوان ATE (تجهیزات تست خودکار) و/یا روی تراشه به عنوان BIST (خودآزمایی داخلی)]، انتخاب و طراحی پوشش (IEEE std 1500)، طراحی TAM (مکانیسم دسترسی آزمایشی) و زمان‌بندی آزمون، تابع هزینه را به حداقل می‌رساند در حالی که محدودیت‌ها و محدودیت‌ها را در نظر می‌گیرد. یک دیدگاه طراحی تست سیستم که تمام مسائل فوق را در نظر می گیرد به منظور توسعه یک راه حل بهینه شده در سطح جهانی مورد نیاز است. طراحی آزمون SOC و بهینه سازی آن موضوع این کتاب است. مقدمه‌ای بر تست، مشکلات مربوط به تست SOC، جزئیات مدل‌سازی و پیاده‌سازی در ابزارهای EDA (اتوماسیون طراحی الکترونیکی) را توضیح می‌دهد. این کتاب به سه بخش تقسیم شده است: i) مفاهیم تست، ii) طراحی SOC برای تست، و iii) برنامه های کاربردی آزمون SOC. بخش اول مقدمه‌ای بر مسائل تست شامل خطاها، انواع خطا، طراحی جریان، تکنیک‌های طراحی برای آزمایش مانند تست اسکن و اسکن مرزی را پوشش می‌دهد. بخش دوم کتاب مشکلات مربوط به SOC مانند مدل‌سازی سیستم، درگیری‌های تست، مصرف انرژی، طراحی مکانیسم دسترسی تست، زمان‌بندی تست و زمان‌بندی نقص محور را مورد بحث قرار می‌دهد. در نهایت، بخش سوم بر کاربردهای SOC، مانند زمان‌بندی آزمون یکپارچه و طراحی TAM، زمان‌بندی نقص محور، و ادغام طراحی آزمون با فرآیند انتخاب هسته تمرکز دارد.